JEOL ARM300II 300kV场发射低温透射电镜

JEOL ARM300II 300kV场发射低温透射电镜

功能介绍 

日本电子300kV冷冻透射电镜满足快速、稳定的冷冻单颗粒技术及冷冻电子断层扫描技术数据的自动收集。用于生物大分子复合体高分辨结构研究，细胞、组织超微结构三维高分辨率成像。

配置参数 

1. 电子源： C-FEG冷场发射电子枪，加速电压80-300kV，连续可调；

2. 配备Ω能量过滤器，Gatan K3相机，Oneview相机，JEOL相位板，科勒照明系统等；

3. 安装SerialEM、JADAS等软件；

4. 信息分辨率极限<0.14nm（未倾斜）；<0.23nm（at±70度倾斜）。

使用规定  预约使用，操作人员必须经过培训方可使用

所在位置  海科路333号D楼一层

设施负责人  田原  021-54923029